LCP-27 Дифракциянын интенсивдүүлүгүн өлчөө

Кыска сүрөттөмө:

Эксперименталдык система негизинен эксперименталдык жарык булагы, дифракциялык пластинка, интенсивдик жазгыч, компьютер жана операциялык программа сыяктуу бир нече бөлүктөн турат.Компьютер интерфейси аркылуу эксперименталдык натыйжаларды оптикалык платформа үчүн тиркеме катары колдонсо болот, ошондой эле эксперимент катары да колдонсо болот.Системада жарыктын интенсивдүүлүгүн жана жогорку тактыктагы жылыш сенсорун өлчөө үчүн фотоэлектрдик сенсор бар.Тор сызгыч жылышууну өлчөй алат жана дифракциянын интенсивдүүлүгүнүн бөлүштүрүлүшүн так өлчөй алат.Компьютер маалыматтарды алууну жана иштетүүнү башкарат жана өлчөө натыйжаларын теориялык формула менен салыштырууга болот.

Бизге электрондук кат жөнөтүңүз

Продукт чоо-жайы

Продукт тегдери

Эксперименттер

1.Бир тешик, көп тилке, көзөнөктүү жана көп тик бурчтуу дифракцияны сыноо, дифракциянын интенсивдүүлүгүнүн мыйзамы эксперименталдык шарттарга жараша өзгөрөт.

2.Компьютер бир тешиктин салыштырмалуу интенсивдүүлүгүн жана интенсивдүүлүгүн бөлүштүрүүнү эсепке алуу үчүн колдонулат, ал эми бир жылчыктын кеңдигин эсептөө үчүн бир жылчыктын дифракциясынын кеңи колдонулат.

3.Көп тилке, тик бурчтуу тешиктердин жана тегерек тешиктердин дифракциясынын интенсивдүүлүгүн бөлүштүрүүнү байкоо

4. Жалгыз тиликтин Фраунгофер дифракциясын байкоо

5.Жарыктын интенсивдүүлүгүнүн бөлүштүрүлүшүн аныктоо

Техникалык шарттар

пункт	Техникалык шарттар
He-Ne Laser	>1,5 мВт @ 632,8 нм
Single-Slit	0 ~ 2 мм (жөндөлүүчү) 0,01 мм тактык менен
Сүрөт өлчөө диапазону	0,03 мм тешик туурасы, 0,06 мм тешик аралыгы
Проективдүү маалымдама торлору	0,03 мм тешик туурасы, 0,06 мм тешик аралыгы
CCD системасы	0,03 мм тешик туурасы, 0,06 мм тешик аралыгы
Макро линза	Кремний фотоэлемент
AC Power Voltage	200 мм
Өлчөө тактыгы	± 0,01 мм