LCP-25 эксперименталдык эллипсометр

Кыска сүрөттөмө:

Кол эллиптикалык поляриметр пленканын калыңдыгын жана сынуу көрсөткүчүн өлчөө үчүн өчүрүү ыкмасын колдонот жана сыноо процессинин четтөө жана четтөө бурчун кол менен жөнгө салат.Эллипсометрия катуу субстраттагы диэлектрдик жука пленканы өлчөөдө кеңири колдонулат.Пленканын калыңдыгын өлчөө методунда аны эң ичке жана эң жогорку тактык менен өлчөөгө болот.

Бизге электрондук кат жөнөтүңүз

Продукт чоо-жайы

Продукт тегдери

Техникалык шарттар

Description	Техникалык шарттар
Калыңдыгын өлчөө диапазону	1 нм ~ 300 нм
Окуя бурчунун диапазону	30º ~ 90º , Ката ≤ 0.1º
Поляризатор жана анализатор кесилишкен бурч	0º ~ 180º
Disk Angular Scale	2º ар бир шкала
Мин.Верньенин окуусу	0,05º
Оптикалык борбордун бийиктиги	152 мм
Иш стадиясынын диаметри	Φ 50 мм
Жалпы өлчөмдөр	730x230x290 мм
Салмагы	Болжол менен 20 кг

Тетиктер тизмеси

Description	Саны
Эллипсометр бирдиги	1
He-Ne Laser	1
Фотоэлектрдик күчөткүч	1
Фото клетка	1
Кремний субстратындагы кремний пленкасы	1
Analysis Software CD	1
Instruction Manual	1